本申请涉及超声检测技术领域,尤其涉及一种超声相控阵试块及超声相控阵检测系统,所述超声相控阵试块包括:试块本体,包括平面结构、十字贯通结构,所述平面结构与所述十字贯通结构一体浇铸成型;浇筑缺陷结构,设于所述试块本体;辅助检测孔,开设于所述平面结构表面。在本申请中的超声相控阵试块提供了十字贯通结构形成曲面、浇筑缺陷结构和辅助检测孔,可以满足超声相控阵设备检测的不同需求,以使超声相控阵设备对试块检测的结果与工业实际应用过程中的检测结果相匹配,从而提高超声相控阵设备实际应用过程中对缺陷分析的准确性。
1.一种超声相控阵试块,其特征在于,包括: 试块本体,包括平面结构、十字贯通结构,所述平面结构与所述十字贯通结构一体浇铸成型; 浇筑缺陷结构,设于所述平面结构和所述十字贯通结构上; 辅助检测孔,开设于所述平面结构表面;所述辅助检测孔包括至少以下之一:横通孔、平底孔、第一横孔和第二横孔。
2.根据权利要求1所述的超声相控阵试块,其特征在于,所述十字贯通结构包括:第一圆柱体和第二圆柱体,所述第一圆柱体与所述第二圆柱体正交贯穿; 所述第一圆柱体和所述第二圆柱体的端面为第一曲面; 所述第一圆柱体和所述第二圆柱体相交的曲面为第二曲面; 所述第二曲面的曲率变化量大于零。
3.根据权利要求1所述的超声相控阵试块,其特征在于,所述辅助检测孔包括所述横通孔,所述横通孔开设于所述平面结构的侧面。
4.根据权利要求1所述的超声相控阵试块,其特征在于,所述横通孔有多个,多个所述横通孔由所述平面结构的第一方向孔径逐渐增大。
5.根据权利要求3所述的超声相控阵试块,其特征在于,所述辅助检测孔还包括:所述平底孔; 多个所述平底孔间隔设置于所述平面结构上表面,且,多个所述平底孔的圆心处于同一条直线上。
6.根据权利要求5所述的超声相控阵试块,其特征在于,孔径相同的多个所述平底孔之间的间距沿第二方向逐渐增大。
7.根据权利要求5所述的超声相控阵试块,其特征在于,所述辅助检测孔还包括: 所述第一横孔,有多个,多个所述第一横孔设于所述平面结构上表面,且,多个所述横孔的圆心在以所述平面结构上表面的第一顶角为圆心、设定值为半径的弧线上。
8.根据权利要求7所述的超声相控阵试块,其特征在于,所述辅助检测孔还包括: 所述第二横孔,有多个,多个所述第二横孔开设于所述平面结构上表面,且,多个所述第二横孔的圆心与所述平面结构上表面的第二顶角之间的夹角为45°。
9.根据权利要求8所述的超声相控阵试块,其特征在于,所述第一横孔的孔径大于所述第二横孔的孔径。
10.一种超声相控阵设备检测系统,其特征在于,包括上述的超声相控阵试块、超声相控阵设备、控制器和显示装置,所述超声相控阵设备和所述显示装置分别和控制器连接。
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